如题，我用CrystalDiskInfo免费版，收集了一些SSD的S.M.A.R.T信息
选取了几张用的时间比较久的，对使用寿命做了点小分析，给大家做个参考

背景知识：S.M.A.R.T是什么
最早期的硬盘监控技术起源于1992年，IBM在AS/400计算机的IBM 0662 SCSI 2代硬盘驱动器中使用了后来被命名为Predictive Failure Analysis（故障预警分析技术）的监控技术，它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况，然后由监控软件得出两种结果：“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。
1995年，康柏公司将该技术方案提交到Small Form Factor(SFF)委员会进行标准化，该方案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据的支持，1996年6月进行了1.3版的修正，正式更名为S.M.A.R.T.（Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology），全称就是“自我检测分析与报告技术”，成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。 

S.M.A.R.T的值代表什么
1、当前值（Normalized value） 
当前值是各ID项在硬盘运行时根据实测数据通过公式计算的结果，计算公式由硬盘厂家自定。 
硬盘出厂时各ID项目都有一个预设的最大正常值，也即出厂值，这个预设的依据及计算方法为硬盘厂家保密，不同型号的硬盘都不同，最大正常值通常为100或200或253，新硬盘刚开始使用时显示的当前值可以认为是预设的最大正常值（有些ID项如温度等除外）。随着使用损耗或出现错误，当前值会根据实测数据而不断刷新并逐渐减小。因此，当前值接近临界值就意味着硬盘寿命的减少，发生故障的可能性增大，所以当前值也是判定硬盘健康状态或推测寿命的依据之一。 
	一般来说，这个数值是会不断减少的，但有些数值比如硬盘温度是会时高时低。
2、最差值（Worst） 
最差值是硬盘运行时各ID项曾出现过的最小/大的非正常值。 
最差值是对硬盘运行中某项数据变劣的峰值统计，该数值也会不断刷新。通常，最差值与当前值是相等的，如果最差值出现较大的波动（小于当前值），表明硬盘曾出现错误或曾经历过恶劣的工作环境（如温度）。
3、临界值（Threshold） 
临界值是硬盘厂商指定的表示某一项目可靠性的门限值，也称阈值，它通过特定公式计算而得。如果某个参数的当前值接近了临界值，就意味着硬盘将变得不可靠，可能导致数据丢失或者硬盘故障。由于临界值是硬盘厂商根据自己产品特性而确定的，因此用厂商提供的专用检测软件往往会跟Windows下检测软件的检测结果有较大出入。 到达临界值，基本就代表这个硬盘已经gg了 
4、数据值（Data或Raw value） 
数据值是硬盘运行时各项参数的实测值，大部分SMART工具以十进制显示数据。 
数据值代表的意义随参数而定，大致可以分为三类： 
1）数据值并不直接反映硬盘状态，必须经过硬盘内置的计算公式换算成当前值才能得出结果； 
2）数据值是直接累计的，如Start/Stop Count（启动/停止计数）的数据是50，即表示该硬盘从出厂到现在累计启停了50次； 
3）有些参数的数据是即时数，如（温度）的数据值是44，表示硬盘的当前温度是44℃。 
因此，有些参数直接查看数据也能大致了解硬盘目前的工作状态。

简单来说，大多数ID初始值都是100，越用越小，当小于临界值时，硬盘就报废了。
对SSD来说，最主要看的应该有（每个厂商提供的不同，可能有些ID某些厂商不提供）
ID 01 原始读取错误率              ID 05 已经淘汰区块数
ID 09 通电总时间                      ID C2 硬盘温度
ID E9 实际写入量（不一定所有品牌都提供）
    由于非SLC的SSD，每个区块有2bit,或3bit
    这样即使写入量是1bit, 有时也会导致整个2bit或3bit的区块重写，
    所以MLC实际写入为1.x